Numri i pjesës :
SN74BCT8374ADWRE4
prodhues :
Texas Instruments
Përshkrim :
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Statusi i pjesës :
Obsolete
Lloji i logjikës :
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Tensioni i furnizimit :
4.5V ~ 5.5V
Temperatura e funksionimit :
0°C ~ 70°C
Lloji i montimit :
Surface Mount
Paketa / Rasti :
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Paketa e pajisjes së furnizuesit :
24-SOIC